Электронная микроскопия наноматериалов: учебное пособие
Сюй А.В.
Учебное пособие написано на основе лекций, читаемых автором для студентов физтех-школы физики и исследований им. Ландау Московского физико-технического института (национального исследовательского университета) по дисциплине «Физические методы исследования наноматериалов». Содержит изложение основных методов электронной микроскопии, применяемых для исследования наноматериалов: электрофизические методы исследования наноматериалов, атомно-силовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроско-пия, рентгеновская дифрактометрия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и др. Предназначено для студентов математических, физических и инженерных специальностей
- Издательство:
- МФТИ, Физтех
- УДК:
- УДК 517(075.8)
- ББК:
- ББК 22.161я73
- Год издания:
- 2025
- Количество страниц:
- 164
- ISBN:
- 978-5-7417- 0858-3
Эта книга когда-то была в библиотеке, но теперь к ней доступа нет!
Скорее всего, данная книга была заменена на более новое издание.
Попробуйте воспользоваться поиском.
Если же замена не найдена, сообщите в библиотеку, пожалуйста!
Если Вы считаете нужным сообщить об опечатке, ошибке или о другой проблеме, Вы можете это сделать.