Сканирующая туннельная микроскопия: учебно-методическое пособие
сост. А. А. Чуприк, Е. П. Шешин
Пособие направлено на ознакомление с физическими принципами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), принципами функционирования сканирующего туннельного микроскопа и основными методиками измерения.
- Издательство:
- МФТИ
- Год издания:
- 2018
- Количество страниц:
- 36
Вы находитесь на официальном сайте библиотеки МФТИ, здесь представлен каталог электронных книг, доступных для скачивания и чтения студентам и сотрудникам МФТИ, а также посетителям сайта, находящимся в локальной сети МФТИ.
Для доступа к полным текстам необходимо пройти авторизацию на портале https://profile.mipt.ru, после чего вернуться на сайт библиотеки https://books.mipt.ru.
В случае возникновения затруднений при выполнении указанных действий, пожалуйста, свяжитесь с нами.
Если Вы считаете нужным сообщить об опечатке, ошибке или о другой проблеме, Вы можете это сделать.