Сканирующая туннельная микроскопия: учебно-методическое пособие
    сост. А. А. Чуприк, Е. П. Шешин
Пособие направлено на ознакомление с физическими принципами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), принципами функционирования сканирующего туннельного микроскопа и основными методиками измерения.
- Издательство:
 - МФТИ
 - УДК:
 - 537.533.35+681.723
 - Год издания:
 - 2018
 - Количество страниц:
 - 36
 
            Вы находитесь на официальном сайте библиотеки МФТИ, здесь представлен каталог электронных книг, доступных для скачивания и чтения студентам и сотрудникам МФТИ, а также посетителям сайта, находящимся в локальной сети МФТИ.
Для доступа к полным текстам необходимо пройти авторизацию на портале https://profile.mipt.ru, после чего вернуться на сайт библиотеки https://books.mipt.ru.
В случае возникновения затруднений при выполнении указанных действий, пожалуйста, свяжитесь с нами.
        
    Если Вы считаете нужным сообщить об опечатке, ошибке или о другой проблеме, Вы можете это сделать.