Сканирующая туннельная микроскопия: учебно-методическое пособие
сост. А. А. Чуприк, Е. П. Шешин

Пособие направлено на ознакомление с физическими принципами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), принципами функционирования сканирующего туннельного микроскопа и основными методиками измерения.

Издательство:
МФТИ
Год издания:
2018
Количество страниц:
36
Нельзя скачать PDF (729.7 kB)
Вы находитесь на официальном сайте библиотеки МФТИ, здесь представлен каталог электронных книг, доступных для скачивания и чтения студентам и сотрудникам МФТИ, а также посетителям сайта, находящимся в локальной сети МФТИ. Для доступа к полным текстам необходимо пройти авторизацию на портале https://profile.mipt.ru, после чего вернуться на сайт библиотеки https://books.mipt.ru. В случае возникновения затруднений при выполнении указанных действий, пожалуйста, свяжитесь с нами.
Если Вы считаете нужным сообщить об опечатке, ошибке или о другой проблеме, Вы можете это сделать.