Сканирующая туннельная микроскопия: учебно-методическое пособие
сост. А. А. Чуприк, Е. П. Шешин
Пособие направлено на ознакомление с физическими принципами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), принципами функционирования сканирующего туннельного микроскопа и основными методиками измерения.
- Издательство:
- МФТИ
- Год издания:
- 2018
- Количество страниц:
- 36
Полный текст книги доступен студентам и сотрудникам МФТИ через Личный кабинет https://profile.mipt.ru/services/.
После авторизации пройдите по ссылке «Books.mipt.ru Электронная библиотека МФТИ»
Если Вы считаете нужным сообщить об опечатке, ошибке или о другой проблеме, Вы можете это сделать.