Сканирующая туннельная микроскопия: учебно-методическое пособие
сост. А. А. Чуприк, Е. П. Шешин

Пособие направлено на ознакомление с физическими принципами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), принципами функционирования сканирующего туннельного микроскопа и основными методиками измерения.

Издательство:
МФТИ
Год издания:
2018
Количество страниц:
36

Доступ к данной книге есть только из локальной сети МФТИ.